ASTRO-CHY-C2A测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
专业技术
l 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
l 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
l 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
l 实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
l 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
l 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
l 系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看
l 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输
l 支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告
测试标准
该设备满足多项国家和国际标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
测试应用
基础应用 | 薄膜、薄片、隔膜 |
纸张、纸板 |
箔片、硅片 |
金属片 |
纺织材料 |
固体电绝缘体 |
无纺布材料，如尿不湿、卫生巾片材等 |
扩展应用 （需特殊附件 或改制） | 量程扩展至5 mm，12 mm，适用于测试薄膜、片材的厚度 |
曲面测量头，满足特殊场合的厚度测试 |
技术指标
项目 | 指标 |
测试范围 | 0～5 mm（常规） |
0～6 mm；12 mm（可选） |
分辨率 | 0.1 μm |
测量速度 | 10 次/min （可调） |
测量压力 | 17.5±1 kPa（薄膜）；50±1 kPa（纸张） |
接触面积 | 50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制 |
电源 | AC 220 V 50 Hz |
外形尺寸 | 461 mm (L) × 334 mm (W) × 357 mm (H) |
净重 | 32 kg |
产品配置
标准配置 | 主机、标准量块一件 |
选购件 | 专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机 |
注：ASTRO Labthink始终致力于产品性能和功能的创新及改进，基于该原因，产品技术规格亦会相应改变。上述情况恕不另行通知，您可登录www.arstun.com获取最新信息。本公司保留修改权与最终解释权。
